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12篇 您的检索式：作者名="LAPUYADE H"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Backside SEU laser testing for commercial-off-the-shelf SRAMs 显示文摘	DARRACQF LAPUYADE H BUARD N etal	2002	IEEE Transactions onNuclear Science2002，49，6：	1
	2	Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs显示文摘	DARRACQ F LAPUYADE H BUARD N	2002	IEEE Transactions on Nuclear Science2002，49，6：	1
	3	Theoretical investigation of an equivalent laser LET显示文摘	POUGET V LAPUYADE H FOUILLAT P	2001	Microelectronic Reliability2001，41，：	1
	4	Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs显示文摘	DARRACQ F LAPUYADE H BUARD N	2002	IEEE Trans Nucl Sci2002，49，：	1
	5	Backside SEU laser testing for commercial- off-the-shelf SRAMs显示文摘	DARRACQ F LAPUYADE H BUARD N	2002	IEEE Trans Nucl Sci2002，49，6：	1
	6	Evaluation of a de sign methodology dedicated to dose-rate-hardened linear integrated circuits显示文摘	DEVAL Y LAPUYADE H	2002	IEEE Transaction on Nuclear Science2002，49，14：	1
	7	Theoretical investigation of an equivalent laser LET 显示文摘	POUGET V LAPUYADE H FOUILLAT P	2001	Microelectronic Reliability2001，41，：	1
	8	Evaluation of a design methodology dedicated to dose-rate-hardened linear integrated circuits显示文摘	DEVAL Y LAPUYADE H BARNABY H	2002	IEEE Trans Nucl Sci2002，49，3：	1
	9	Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis显示文摘	POUGET V LEWIS D LAPUYADE H	1999	Proceedings of ESREF99 Mieroelectronics Reliability1999，39，：	1
	10	Backside SEU Laser Testing for Commercial Off-the-Shelf SRAMs显示文摘	DARRACQ F LAPUYADE H BUARD H	2002	IEEE Trans on Nucl Sci2002，49，6：	1
	11	Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs显示文摘	Darracq F Lapuyade H Buard N		0，，：	1
	12	Backside SEU laser testing for commercialoff-the-shelf SRAMs显示文摘	DARRACQ F LAPUYADE H BUARD N etal	2002	Nuclear Science2002，49，6：	1

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