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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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10篇 您的检索式：作者名="FOUILLAT P"
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1Using artificial neural networks or Lagrange interpolation to characterize the faults in an analog circuit:an experimental study显示文摘Maidon Y Jervis B W Fouillat P 1999IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement1999，48，5：1
2La-ser cross measurement for the evaluation of single e-vent effects in integrated circuits显示文摘POUGET V FOUILLAT P LEWIS D 2000Microelectron-ics Reliability2000，40，2：1
3Dose-rate and irradiation temperature dependence of BJT SPICE model rad-parameters显示文摘MONTAGNER X BRIAND R FOUILLAT P 1998IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society1998，45，3：1
4Using artificial neural networks or lagrange interpolation to characterize the faults in an analog circuit显示文摘Maiden Y Jervis B W Fouillat P 1999IEEE Trans on Instrumentation and Measurement1999，48，5：1
5Total dose effects on gate controlled lateral PNP bipolar junction transistors显示文摘Cazenave P Fouillat P Montagner X 1998IEEE Trans Nucl Sci1998，45，6：1
6Theoretical investigation of an equivalent laser LET显示文摘POUGET V LAPUYADE H FOUILLAT P 2001Microelectronic Reliability2001，41，：1
7Theoretical investigation of an equivalent laser LET 显示文摘POUGET V LAPUYADE H FOUILLAT P 2001Microelectronic Reliability2001，41，：1
8Using artificial neural networks or Lagrange interpolation to characterize the fault in an analog circuit: An experimental study显示文摘Maiden Y Jervis B W Fouillat P 1999IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement1999，48，5：1
9Time-resolved scanning of Integrated circuits with a pulsed laser:application to transient fault injection in an ADC显示文摘Pouget V Lewis D Fouillat P 0，，：1
10Time-resolved scanning of integrated circuitswith a pulsed laser: Application to transient faultinjection in an ADC显示文摘POUGET V LEWIS D FOUILLAT P 2004Instrument and Meas-urement2004，53，4：1
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