| 1 | InP/SiO_2纳米复合膜的微观结构和光学性质显示文摘应用射频磁控共溅射方法在石英玻璃和抛光硅片上制备了InP SiO2 复合薄膜 ,并在几种条件下对这些薄膜进行退火 .X射线光电子能谱和卢瑟福背散射实验结果表明 ,复合薄膜中InP和SiO2 的化学组分都大体上符合化学计量配比 .X射线衍射和激光喇曼谱实验结果都证实了复合薄膜中形成了InP纳米晶粒 .磷气氛保护下的高温(5 2 0℃ )退火可以消除复合薄膜中残存的In和In2 O3 并得到了纯InP SiO2 纳米复合薄膜 . | 丁瑞钦 王浩 W.F.LAU W.Y.CHEUNG S.P.WONG 王宁娟 于英敏 | 2001 | 物理学报2001，50，8： | 3 |
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