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8篇 您的检索式：作者名="RASRAS M"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Impact of MOSFET gate oxide breakdown on digital circuit operation and reliability 显示文摘	KACZER B DEGRAEVE R RASRAS M	2002	IEEE Trans Elec Dev2002，49，3：	1
	2	Analysis and modeling of a digital CMOS circuit operation and reliability after gate oxide breakdown: a case study 显示文摘	KACZER B DEGRAEVE R RASRAS M	2002	Microelec Reliab2002，42，5：	1
	3	Integrated resonance enhanced variable optical delay lines显示文摘	Rasras M S	2005	IEEE Photonic Technology Let- ter2005，17，4：	1
	4	Integrated resonance-enhanced variable optical delay lines显示文摘	RASRAS M S	2005	Photonics Tech Lett2005，17，4：	1
	5	Analysis and modeling of a digital CMOS circuit opera-tion and reliability after gate oxide breakdown:a casestudy显示文摘	KACZER B DEGRAEVE R RASRAS M	2002	Microelec Reliab2002，42，5：	1
	6	Im-pact of MOSFET gate oxide breakdown on digital cir-cuit operation and reliability显示文摘	KACZER B DEGRAEVE R RASRAS M	2002	IEEE Trans ElecDev2002，49，3：	1
	7	Characterization of the dynamical processes in all - optical signal processing using semiconductor optical amplifiers显示文摘	Kang I Dorrer C Zhang LM Dinu M Rasras M Buhl L L Cabot S Bhardwaj A Liu X Cappuzz M A Gomez L Wong - Foy A Chen Y F Dutta N K Patel S S Neilson D T Giles C R Piecirilli A Jaques J	2008	Journal of Selected Topics Quantum Electronics2008，14，3：	1
	8	Integrated resonance enhanced variable optical delay lines显示文摘	RASRAS M S MADSEN C K CAPPUZZO M A	2005	IEEE Photonics Technology Letters2005，17，4：	1

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