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| 1 | 进入21世纪的硫酸法钛白工业显示文摘尽管在众多的用户、专家、新闻记者和政治家的心目中 ,始终存在着钛白的硫酸法生产对环境是“脏”工艺 ,而氯化法是“清洁”工艺的看法。而在今日 ,这 2种生产工艺对环境的影响仍然不分伯仲。至少 ,在环保方面的投入 ,可以通过把“废料”转变成有用材料或作为产品销售而得到部分回报。本文概要论述了硫酸法钛白工厂在激烈的全球市场竞争中 ,通过改变环保条件以保持竞争优势。不仅产品成本和质量可做得更优秀 ,而且还可不断开发更多类型的产品。 | Wolf-D.Griebler Jrg Hocken Klaus Schulte | 2004 | 涂料工业2004，34，4： | 2 |
| 2 | The automated manufacturing research facility of the National Bureau of Standards显示文摘 | Hocken RJ Albus JS | 1983 | Journal of Manufacturing Systems1983，1，1： | 1 |
| 3 | The long-range scanning stage: a novel platform for scanned probe microscopy 显示文摘 | HOLMES M HOCKEN R TRUMPER D | 2000 | Prec Eng2000，24，3： | 1 |
| 4 | Three Dimensional Metrology 显示文摘 | HOCKEN R SIMPSON J A BORCHARDT B | 1977 | Annals of the CIRP1977，26，1： | 1 |
| 5 | Sulfate route TiO2 heading for the next millennium 显示文摘 | GRIEBLER W D SCHULTE K HOCKEN J | 1998 | European Coatings Journal1998，，12： | 1 |
| 6 | Three dimensional metrology 显示文摘 | Hocken R Simpson A J | 1977 | Annals of the CIRP1977，26，2： | 1 |
| 7 | A Survey of Current Robot Metrology Methods显示文摘 | Lau K Hocken P J | 1984 | Annals of the CIP P1984，33，2： | 1 |
| 8 | Automatic Laser Tracking Interferometer System for Robot Metroloty显示文摘 | Lau K Hocken R J Haight W C | 1986 | Precision Engineering1986，8，1： | 1 |
| 9 | Three Dimensional Metrology显示文摘 | HOCKEN R SIMPSON J A | 1997 | Annals of the CIRP1997，26，： | 1 |
| 10 | Iatrogenic contribution to anaemia of chronic renal failure显示文摘 | HOCKEN A G MARWAH P K | 1971 | Lancet1971，1，： | 1 |
| 11 | Dynamics and control of the UNCC/MIT sub-atomic measuring machine显示文摘 | Trumper D L Wang C | 2001 | Annals of the CIRP2001，50，1： | 1 |
| 12 | A general meth- odology for machine tool accuracy enhancement by error compensa- tion 显示文摘 | Donmez M A Blomquist D S Hocken R J | 1986 | Precision Engineering1986，8，4： | 1 |
| 13 | Self- calibration reversal, redundancy, error separation, and ' absolute testing' 显示文摘 | EVANS C J HOCKEN R J ESLER W T | 1996 | ClRP Annals1996，45，2： | 1 |
| 14 | A Survey of Current Robot Metrology Methods显示文摘 | Lau K Hocken R J | 1984 | Annals of the CIRP1984，33，2： | 1 |
| 15 | Dynamic and control of the UNCC/MIT sub-atomic measuring machine 显示文摘 | HOCKEN R J TRUMPER D L WANG C | 2001 | CIRP Annals2001，50，1： | 1 |
| 16 | Automatic laser tracking interferometer system for robot metrology显示文摘 | Lau K Hocken R J Haight W C | | 0，，01： | 1 |
| 17 | TiO2 pigment structure and kinetics of PVC weathering 显示文摘 | Gesenhues U Hocken J | 2000 | J Vinyl Addit Techn2000，6，2： | 1 |
| 18 | Self-calibration:reversal,redundancy,error separation,and ‘absolute testing'显示文摘 | Evans C J Hocken R J Estler W T | 1996 | Annals of the CIRP1996，452，： | 1 |
| 19 | Three dimensional metrology显示文摘 | Simpson J Borchardt B | 1977 | The CIRP Annals1977，26，2： | 1 |
| 20 | A general methodology for machine tool accuracy enhancement by error compensation 显示文摘 | DONMEZ M A BLOMQUIST D S HOCKEN R J | 1986 | Precision En- gineering1986，8，4： | 1 |
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