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30篇 您的检索式：作者名="WICKRAMASINGHE H K"

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	题名	作者	年代	出处	被引量
1	Thermally assisted recording beyond traditional limits 显示文摘	HAMANN H F MARTIN Y C WICKRAMASINGHE H K	2004	Ap- pl Phys Let2004，84，：	1
2	Method for imaging side- walls by atomic forc, e microscopy 显示文摘	Martin Y Wickramasinghe H K	1994	Applied Physics Let- ters1994，64，19：	1
3	Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100-~ scale 显示文摘	Martin Y Williams C C Wickramasinghe H K	1987	Journal of Applied Physics1987，61，：	1
4	Atomic force microscope force mapping and profiling on a sub 100-Aa scale显示文摘	Williams 2 C Wickramasinghe H K	1987	J Appl Phys1987，69，10：	1
5	Magnetic imaging by 'force microscopy'with 1000 A resolution显示文摘	MARTIN Y WICKRAMASINGHE H K	1987	Applied Physics Letters1987，50，20：	1
6	Scanning Joule Expansion Microscopy at Nanometer Scales 显示文摘	Williams C C Wickramasinghe H K	1986	Appl Phys Lett1986，49，23：	1
7	High-resolution capacitance measurement and poteraiometry by force microscopy显示文摘	Abraham D W Wickramasinghe H K	1988	Appl Phys Lett1988，52，：	1
8	显示文摘	Martin Y Wickramasinghe H K	1987	Appl Phys Lett1987，50，8：	1
9	Scanning Thermal Profiler 显示文摘	Willams C C Wickramasinghe H K	1986	Applied physics Letter1986，49，15：	1
10	Method for imaging side-walls by atomic force microscopy显示文摘	Martin Y Wickramasinghe H K	1994	Appl Phys Lett1994，64，19：	1
11	Scanned- probe microscopes 显示文摘	Wickramasinghe H K	1989	Scientific American1989，261，4：	1
12	Kelvin probe force microscopy显示文摘	Normenmacher M O'Boyle M P Wickramasinghe H K	1991	Applied Physics Letter1991，58，：	1
13	Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100-~ scale显示文摘	Martin Y Williams C C Wickramasinghe H K	1987	JAppl Phys1987，61，10：	1
14	Magnetic imaging by“force microscopy”with 1 000°a resolution显示文摘	MARTIN Y WICKRAMASINGHE H K	1987	Applied Physics Letters1987，50，20：	1
15	Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100-A scale 显示文摘	Martin Y Williams C C Wickramasinghe H K	1987	Journal of Applied Physics1987，61，10：	1
16	Magnetic imaging by 'force microscopy' with 1000 A resolution显示文摘	Martin Y Wickramasinghe H K	1987	Appl Phys Lett1987，50，20：	1
17	Kelvin probe force microscopy 显示文摘	Nonnenmaccher M Oboyle M P Wickramasinghe H K	1991	Applied Physics Letters (S0003-6951)1991，58，25：	1
18	Progress in scanning probe microscopy显示文摘	Wickramasinghe H K	2000	Acta Master2000，48，：	1
19	Magnetic imaging by ″force microscopy″ with 1000 ? resolution显示文摘	Martin Y Wickramasinghe H K	1987	Applied Physics Letters1987，50，20：	1
20	Atomic Force Microscope-force Mapping and Profiling on a Sub 10 nm Scale 显示文摘	Martin Y Williams C C Wickramasinghe H K	1987	J Appl Phys1987，61，10：	1

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