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10篇 您的检索式：作者名="PENNETTA L"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	A stochastic ap proach to failure analysis in electromigration phenom ena 显示文摘	Reggiani L Trefan G	1999	Microelectronics Reliability1999，39，6：	1
	2	Scaling and universality in electrical failure of thin films显示文摘	PENNETTA C REGGIANI L TREFAN Gy	2000	Physical Review Letters2000，84，21：	1
	3	A Monte Carlo percolative approach to reliability analysis of semiconductor structures显示文摘	PENNETTA C REGGIANI L TREFAN Gy	2001	Mathematics and Computers in simulation2001，55，2：	1
	4	Some results of coastal defences monitoring by ground laser scanning technology显示文摘	1NFANTE M MARSICO A PENNETTA L	2012	Environmental Earth Sciences2012，，：	1
	5	Biased percolation and abrupt failure of electronic devices显示文摘	GINGL Z PENNETTA C KISS L B	1996	Sem Sci Technol1996，11，4：	1
	6	Scaling relations and universality in electrical failure processes of thin films:is it possible to predict failure times显示文摘	PENNETTA C REGGIANI L TREFAN Gy	2001	Computational Materials Science2001，22，1：	1
	7	A biased percolation model for the analysis of electronic-device degradation显示文摘	GINGL Z PENNETTA C KISS L B	1998	Microelectronics and Reliability1998，38，4：	1
	8	Biased percolation and electrical breakdown显示文摘	PENNETTA C GINGL Z KISS L B	1997	Semic Sci Technol1997，12，3：	1
	9	Thermal effects on the electrical degradation of thin film resistors显示文摘	PENNETTA C REGGIANI L KISS L B	1999	Physica A1999，266，1：	1
	10	A percolative simulation of dielectric-like breakdown显示文摘	PENNETTA C GINGL Z KISS L B	1998	Microelectronics and Reliability1998，38，2：	1

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