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10篇 您的检索式：作者名="Mitard"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Investigation on trapping and detrapping mechanisms in HfO2 films 显示文摘	MITARD J LEROUX C GHIBAUDO G	2005	Microelectronic Engineering2005，80，7：	1
	2	Review on High-k Dielectrics Reliability Issues显示文摘	Ribes G Mitard J Denais M		0，，01：	1
	3	Review on high-k dielectrics reliability issues 显示文摘	RIBES G MITARD J DENAIS M	2005	Device and Materials Reliability IEEE Trans2005，5，1：	1
	4	Review on high-k dielectrics reliability issues显示文摘	Ribes G Mitard J Denais M		0，，01：	1
	5	Investigation on trapping and detrapping mechanisms in HfO2 films显示文摘	Mitard J Leroux C Ghibaudo G	2005	Microelectronic Engineering2005，80，：	1
	6	Electri- cal characterization of Ge-pFETs with HfO2/TiN metal gate: review of possible defects impacting the holemobility 显示文摘	MITARD J VICENT B JAEGER B D	2010	ECS Trans2010，28，2：	1
	7	Review on high-k dielectrics reliability, issues 显示文摘	RIBES G MITARD M DENAIS M	2005	IEEE Trans on Device and Materials Reliability2005，5，3：	1
	8	Review on High-k Dielectrics Reliability Issues显示文摘	Ribes G Mitard J Denais M	2005	Ieee Transactions On Device and Materials Reliability2005，5，1：	1
	9	Review on high-k dielectrics reliability issues 显示文摘	RIBES G MITARD J DENAIS M	2005	IEEE Trans on Device Mater Rel2005，5，1：	1
	10	High performance 70-nm germanium p MOSFETs with Boron LDD implants显示文摘	HELLINGS G HELLINGS G MITARD J	2009	IEEE Electron Device Letters2009，30，1：	1

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