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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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1篇 您的检索式：作者名="Matthew R.Phillips"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1Characterisation of the optical properties of InGaN MQW structures using a combined SEM and CL spectral mapping system显示文摘We demonstrate the ability of a combined scanning electron microscope and cathodoluminescence(CL) spectral mapping system to provide important spatially resolved information.The degree of inhomogeneity in spectral output across a multi-quantum well sample is measured using the SEM-CL system as well as measuring the efficiency roll-off with increasing carrier concentration.The effects of low energy electron beam modification on the InGaN/GaN multi quantum wells have also been characterized.Mark N.Lockrey Matthew R.Phillips 2011Journal of Semiconductors2011，32，1：1
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