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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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17篇 您的检索式：作者名="GOLONEK"
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1Genetic algorithm based method for optimal analog test points selection 显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems Ⅱ : Express Briefs2007，54，2：1
2Genetic-algorithm- based method for optimal analog test points selection 显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems Ⅱ: Express Briefs2007，54，2：1
3Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection 显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems II : Express Briefs2007，54，2：1
4Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection 显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs2007，54，2：1
5Genetic algorithm based method for og test points selection 显示文摘Golonek T anal Circuits and Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Systems II: Express Briefs2007，54，2：1
6Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Trans on Circuits and Systems: Express Briefs2007，54，2：1
7Genetic algorithm based method for optimal analog test points selection显示文摘Golonek T Rutkowski J IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs0，54，2：1
8Heuristic methods to test fre- quencies optimization for analogue circuit diaguosis显示文摘Jantos P Grzechca D Golonek T 2008Bulletin of the Pofish Academy of Sciences Technical Sciences2008，56，1：1
9Genetic-algorith-based method for op- timal analog test points selection显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007IEEE Trans on Circuits and Systems II : Express Briefs2007，54，2：1
10Genetic- algorithm- based Method For Optimal Analog Test Points Selection 显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems- : Express Briefs2007，54，2：1
11Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems II:Express Briefs2007，54，2：1
12Heuristicmethods to test frequencies optimization for analoguecircuit diagnosis显示文摘JANTOS P GRZECHCA D GOLONEK T 2008Bulletin of the Polish Academy ofSciences Technical Sciences2008，56，1：1
13Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems-Ⅱ:Express Briefs2007，54，2：1
14Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection 显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems-II:Express Briefs2007，54，2：1
15Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007IEEE Transac- tions on Circuits and Systems-II:Express Briefs2007，54，2：1
16Genetic algorithm based method for optimal analog test points selection显示文摘Golonek T Rutkowski J 2007IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Express Briefs2007，54，2：1
17Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection显示文摘GOLONEK T RUTKOWSKI J 2007I EEE Trans on Circuits and Systems-it: Express Briefs2007，54，2：1
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