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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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2篇 您的检索式：作者名="David Gentle"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估显示文摘介绍了外推法技术,在此基础上提出一种基于几何光学的吸波材料影响评估方法.该方法可以在数字滤波后有效模拟并引入反射信号,通过比较两次外推后的数据,得到对增益测量的影响评估结果.在中国计量科学研究院(National Institute of Metrology,NIM)的外推法装置中进行实验验证,结果表明:该方法可以有效模拟吸波材料的影响,并给出由吸波材料引入的增益测量不确定度分量.该方法目前已应用到NIM和英国国家物理研究院(National Physical Laboratory,NPL)的外推法测量结果评定中,不仅对于外推法,对于在暗室中进行的其他天线测量结果的评估也具有很好的参考价值.刘潇 David Gentle 2016电波科学学报2016，31，5：3
2Standardization protocols and optimized precursor sets for the efficient application of automated parallel synthesis to lead optimization : a mitsunobu example 显示文摘Gentles Robert G Wodka Dariusz Park David C 2002Journal of Combinatorial Chemistry2002，4，5：1
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