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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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14篇 您的检索式：作者名="DEVOLDER S"
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1Thin layer thinkness measurements based on the acoustic-optic technique显示文摘Devolder S Wevers M DeMeester D 1996Application Physical Letters1996，68，12：2
2Thin layer thinkness measurements based on the acaustic-optic technique显示文摘Devolder S Wevers M DeMeester D 1996Appl Phys Lett1996，68，12：1
3Thin lager thinkness measurements based on the acaustic-optic technique显示文摘S Devolder M Wevers D Demeester 1996Appl Phys Lett1996，68，12：1
4Thin layer thinkness measurements based on the acaustic optic technique 显示文摘Devolder S Wevers M DeMeester D 1996Appl Phys Lett1996，68，12：1
5Thin layer thickness measurements based on the acoustic-optic technique 显示文摘DEVOLDER S WEVERS M de MEESTER D 1996Applied Physics Letter1996，68，12：1
6Surface roughness determination using the acoustic-optic technique: theory and experiment显示文摘BRIER R LEROY O DEVOLDER S 1997Applied Physics Letter1997，75，5：1
7Thin layer thinkness measurements based on the acoustic-optic technique 显示文摘DEVOLDER S WEVERS M de MEESTER D 1996A P L1996，68，12：1
8Surface roughnessdetermination using the acoustic-optic technique: theory andexperiment显示文摘BRIER R LEROY O DEVOLDER S 1997Applied Physics Letters1997，75，5：1
9Using municipal biosolids in combination with other residuals to restore metal-contaminated mining Krea$显示文摘Brown S L Henry C L Chaney B L Compton H Devolder P S 2003Plant and Soft2003，249，：1
10Guess what:lymphangiosarcoma of Stewart-Treves显示文摘Devolder S Breuillard F Gross S 1998Eur J Dermatol1998，8，7：1
11Thin layer thinkness measurements based on the acaustic-optic technique显示文摘Devolder S Wevets M DeMeester D 1996Appl Phys Lett1996，68，12：1
12Thin layer thinkness measurements based on the acoustic-optic technique 显示文摘DEVOLDER S WEVERS M DEMEESTER D 1996A P L1996，68，12：1
13Design Considerations and Strategies for High-reliable STT-MRAM 显示文摘Zhao W S Devolder T Lakys Y 2011Microelectronics Reliability2011，51，911：1
14Self-Enabled 'Error-Free' Switching Circuit for Spin Transfer Torque MRAM and logic 显示文摘Lakys Y Zhao W S Devolder T 2012IEEE Transactions on Magnetics2012，48，9：1
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