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2篇 您的检索式：作者名="D.Sen"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Solution quenched structure of wrought PH13-8Mo stainless steel显示文摘	J.Mittra G.K.Dey D.Sen		0，，：	1
	2	用白光条纹测量膜厚显示文摘阐述一种利用双通迈克尔逊干涉仪得到的白光条纹测量薄膜厚度的方法。这种方法适合测量15nm到2500nm范围内的厚度。	P.K.Mohanty P.N.Puntambekar D.Sen 钟国林	1990	应用光学1990，11，3：	0

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