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1篇 您的检索式：作者名="Craig D.Englund"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	录像带的表面粗糙度与磁特性的关系显示文摘人们知道,磁记录介质的表面粗糙度影响记录和重放特性。我们用于涉法对一系列VHS 录像带表面进行了粗糙度测量。业已发现磁带的信号输出电平和噪声与其均方根(rms)表面粗糙度有密切的关系(相关系数>0.95)。并发现随着表面粗糙度的增加,高频 RF 输出降低。这种关系在某种程度上符合三种理论模型。均方根表面粗糙度干涉法测量值乘以2.7,恰好等于计算出的磁头与磁带的间距(以下简称头一带间距)。	Glen M.Robinson Theodere J.Szczch Craig D.Englund Richard D.Cambronne 李正	1990	信息记录材料1990，0，4：	0

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