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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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16篇 您的检索式：期刊名="Russian Microelectronics"
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1Influence of optical properties of the SOI structure onthe wafer temperature during rapid thermal annealing显示文摘RUDAKOV V I OVCHAROV V V PRIGARA V P 2012Russian Microelectronics2012，41，1：1
2Lead-free solders in IC manufacture: a review显示文摘ZENIN V V BELYAEV V N SEGAL Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
3Selection of optimal parameters of laser radiation for simulating ionization effects in silicon bulk-technology microcircuits显示文摘A. Yu. Nikiforov P. K. Skorobogatov A. N. Egorov D. V. Gromov 2014Russian Microelectronics2014，，2：1
4Experimental studies of the adequacy of laser simulations of dose rate effects in integrated circuits and semiconductor devices显示文摘A. Yu. Nikiforov P. K. Skorobogatov A. I. Chumakov A. V. Kirgizova A. G. Petrov P. P. Kutsko A. V. Kuzmin A. A. Borisov V. A. Telets V. T. Punin V. S. Figurov 2009Russian Microelectronics2009，，1：1
5Evaluating the effect of photogeneration nonuniformity on the accuracy of laser simulation of the transient radiation response in semiconductor devices and circuits显示文摘A. Y. Nikiforov P. K. Skorobogatov 2008Russian Microelectronics2008，，1：1
6Physical principles of laser simulation for the transient radiation response of semiconductor structures, active circuit elements, and circuits: A nonlinear model显示文摘A. Y. Nikiforov P. K. Skorobogatov 2006Russian Microelectronics2006，，3：1
7Lead-free solders in IC manufacture: a review显示文摘Zenin V V Belyaev V N Segal Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
8Physical Principles of Laser Simulation for the Transient Radiation Response of Semiconductor Structures, Active Circuit Elements, and Circuits: A Linear Model显示文摘A. Y. Nikiforov P. K. Skorobogatov 2004Russian Microelectronics2004，，2：1
9Lead-free solders in IC manufacture:a review显示文摘 Belyaev V N Segal Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
10Lead-free solders in IC manufacture:a review显示文摘Zenin V V Belyaev V N Segal Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
11Dominant mechanisms of transient-radiation upset in CMOS RAM VLSI circuits realized in SOS technology显示文摘KIRGIZOVA A V NIKIFOROV A Y GRIGOR'EV N G 2006Russian Microelectronics2006，35，3：1
12Electronic components and architecture of future super?computers显示文摘Mitropol'skii Y I 2015Russian Microelectronics2015，44，：1
13Lead-free solders in IC manufacture: A review显示文摘Zenin V V Belyaev V N Segal Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
14Making Anodic Alumina Thin Films Having a Pore Array显示文摘Vorobyova A I Outkina E A 2005Russian Microelectronics2005，34，3：1
15Influence of optical properties of the SOI structure on the wafer temperature during rapid thermal annealing 显示文摘RUDAKOV V I OVCHAROV V V PRIGARA V P 2012Russian Microelectronics2012，41，1：1
16Lead-free solders in IC manufacture review显示文摘Zenin V V Belyaev V N Segal Y E 2003Russian Microelectronics2003，32，4：1
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