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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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17篇 您的检索式：期刊名="IEEE Trans On Rel"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1A New Algorithm for Symbolic System Reliability Analysis显示文摘LIN P M LEON B J HUANG T C 1976IEEE Trans on Rel1976，25，1：1
2Approaches for reliability modeling of continuous-state device 显示文摘Zuo M J Jiang R Yan R C M 1999IEEE Trans On Rel1999，48，1：1
3Efficient and Exact Reliability Evaluation for Networks with Imperfect Vertices 显示文摘Kuo Sy-yen 2007IEEE Trans on Rel2007，56，2：1
4Calculation of Node-Pair Reliability in Large Networks with Unreliable Nodes显示文摘TORRIERI D 1994IEEE Trans on Rel1994，43，3：1
5Factoring & Reductions for Networks with Imperfect Vertices显示文摘THEOLOGOU O R CARLICR T G 1991IEEE Trans on Rel1991，40，2：1
6The statistics of NBTI-induced VT and β mismatch shifts in pMOSFETs 显示文摘RAUCH S E 2002IEEE Trans on Device Mater Rel2002，2，4：1
7Reliability Evaluation for Distributed computing Networks with Imperfect Nodes显示文摘WEI-JENN KE WANG Sheng-de 1997IEEE Trans on Rel1997，46，3：1
8Conduction band-edge states associated with the removal of d-state degeneracies by the Jahn-Teller effect 显示文摘LUCOVSKY G FULTON C C ZHANG Y 2005IEEE Trans on Device Mater Rel2005，5，1：1
9Origin of Vt instabilities in high- k dielectrics: Jahn-Teller effect or oxygen vacancies 显示文摘RIBES G BRUYERE S ROY D 2006IEEE Trans on Device Mater Rel2006，27，7：1
10Material Failure Mechanism sand Damage Models显示文摘DASGUPTA A PECHT M 1991IEEE Trans On Rel1991，40，5：1
11Approaches for reliability modeling of continuous-state device显示文摘Zuo M J Jiang R Yam R C M 1999IEEE Trans On Rel1999，48，1：1
12Review on high-k dielectrics reliability issues 显示文摘RIBES G MITARD J DENAIS M 2005IEEE Trans on Device Mater Rel2005，5，1：1
13Reliability modeling of hardware and software interactions, and its applications显示文摘TENG X L 2006IEEE Trans on Rel2006，55，4：1
14Efficient and Exact Reliability Evaluation for Networks with Imperfect Vertices 显示文摘Kuo Sy-yen 2007IEEE Trans on Rel2007，56，2：1
15Reliability Modeling of Hardware and Software Interactions, and Its Applications显示文摘Teng X 2006IEEE Trans on Rel2006，55，4：1
16Material Failure Mechanism sand Damage Models显示文摘DASGUPTA A PECHT M 1991IEEE Trans on Rel1991，40，5：1
17Approaches for Reliability Modeling of Continuous-State Device 显示文摘Zuo M J Jiang R Yam R C M 1999IEEE Trans On Rel1999，48，1：1
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