宽角扫描双反射面天线的方向图分析

查看全文 作　　者：[1]刘旭峰;[1]刘少东;[1]张福顺;[1]焦永昌

机构地区：[1]西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室,陕西西安710071

出　　处：《西安电子科技大学学报》索引2005年第32卷第1期,共4页

基　　金：'十五'预研资助项目(41321070102);天线与微波技术重点实验室基金资助项目(51437040101ZS0702) 摘　　要：为了计算双反射面天线的宽角扫描辐射特性,该文给出了一种双反射面天线的方向图混合分析方法.先将几何光学和基于傅里叶贝塞尔方法的物理光学相结合,提出了一种有效的双反射面天线次级方向图分析方法.与文献中已有结果的比较表明,文中的混合方法是可行和精确的,并采用该混合方法对一个侧馈偏置卡塞格伦天线进行了分析,给出了该天线的宽角扫描辐射特性和增益.计算结果表明,该天线在宽角扫描过程中,辐射方向图无太大畸变,增益损失很小,副瓣电平优于-20dB. 关键词：宽角扫描双反射面天线辐射方向图侧馈偏置卡塞格伦天线

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