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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	VLSI电路可测性设计技术及其应用综述显示文摘综述了超大规模集成电路的几种主要的可测试性设计技术,如扫描路径法、内建自测试法和边界扫描法等,并分析比较了这几种设计技术各自的特点及其应用方法和策略。	成立王振宇高平祝俊	2004	半导体技术2004，29，5：	26
	2	时序基准电路S344可测性设计显示文摘以时序电路的可测性设计方法为主要研究内容,针对时序电路中由于时序元件的可观测性和可控制性比较差,导致测试生成难度较大,并且存在影响测试故障覆盖率的问题。以固定型故障模型的检测为研究基础,通过对时序电路进行扫描测试技术的可测性设计,解决时序电路中内部节点难以测试的问题。设计实现的目标是以尽可能少地插入可测性设计的硬件逻辑,提高被测时序电路的故障覆盖率。	赵树军王永强张帅	2015	黑龙江工程学院学报2015，29，2：	0

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