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| 1 | 超低泄漏电流二极管单粒子位移损伤电流计算显示文摘提出了一种计算超低泄漏电流硅二极管的单粒子位移损伤电流的方法。采用SRIM软件计算了252Cf源的裂变碎片入射二极管产生的初级撞出原子的分布,并采用Shockley-Read-Hall复合理论探讨了单粒子位移损伤电流值与缺陷参数的关系,计算了252Cf源辐照引起的单粒子位移损伤电流台阶值,计算结果与实验结果一致。针对耗尽区电场非均匀的特点,提出电场分层近似方法来考虑处于耗尽区中不同位置的初级撞出原子产生的缺陷对泄漏电流的影响。结果表明,PN结附近电场增强载流子产生效应最显著,考虑电场增强效应的情况下单个Frenkel缺陷引起的泄漏电流比未考虑电场增强效应时高约44倍;裂变碎片80 Me V Nd入射比106 Me V Cd入射引起的单粒子位移损伤电流大;252Cf源的裂变碎片在二极管中引起的单粒子位移损伤电流台阶值主要集中于1 f A至1 p A之间。 | 唐杜 贺朝会 熊涔 张晋新 臧航 李永宏 张鹏 谭鹏康 | 2016 | 强激光与粒子束2016，28，2： | 1 |
| 2 | 基于相关性分离的逻辑电路敏感门定位算法显示文摘随着CMOS器件特征尺寸进入纳米量级,因高能粒子辐射等造成的电路失效问题日益严重,给电路可靠性带来严峻挑战。现阶段,准确评估集成电路可靠性,并以此为依据对电路进行容错加固,以提高电路系统可靠性变得刻不容缓。然而,由于逻辑电路中存在大量扇出重汇聚结构,由此引发的信号相关性导致可靠性评估与敏感单元定位面临困难。该文提出一种基于相关性分离的逻辑电路敏感门定位算法。先将电路划分为多个独立电路结构(ICS);以ICS为基本单元分析故障传播及信号相关性影响;再利用相关性分离后的电路模块和反向搜索算法精准定位逻辑电路敏感门单元;最后综合考虑面向输入向量空间的敏感门定位及针对性容错加固。实验结果表明,所提算法能准确、高效地定位逻辑电路敏感单元,适用于大规模及超大规模电路的可靠性评估与高效容错设计。 | 蔡烁 何辉煌 余飞 尹来容 刘洋 | 2024 | 电子与信息学报2024，46，1： | 0 |
| 3 | Single event upset induced by single event double transient and its well-structure dependency in 65-nm bulk CMOS technology显示文摘Single event upset (SEU) is one of the most important origins of soft errors in aerospace applications.As technology scales down persistently, charge sharing is playing a more and more significant effect on SEU of flip-flop. Charge sharing can often bring about multi-node charge collection in storage nodes and non-storage nodes in a flip-flop. In this paper, multi-node charge collection in flip-flop data input and flip-flop clock signal is investigated by 3D TCAD mixed-mode simulations, and the simulate results indicate that single event double transient (SEDT) in flip-flop data input and flip-flop clock signal can also cause a SEU in flip-flop. This novel mechanism is called the SEDT-induced SEU, and it is also verified by heavy-ion experiment in 65 nm twin-well process. The simulation results also indicate that this mechanism is closely related with the well-structure,and the triple-well structure is more effective to increase the SEU threshold of this mechanism than twin-well structure. | Pengcheng HUANG Shuming CHEN Jianjun CHEN | 2016 | Science China(Information Sciences)2016，59，4： | 0 |
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