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| 1 | 半侵入式激光探针装备故障注入技术研究及应用显示文摘针对装备大规模集成电路测试性验证与评估需求,突破传统方式的故障注入难、耗资耗时等限制,开展半侵入式装备激光探针故障注入技术研究及应用;首先,研究了装备传统物理故障注入技术,分析了脉冲激光瞬态故障注入方式的可行性及作用机理;然后,建立了脉冲激光瞬态故障注入的能量传输模型,提出了基于线性传输和体积传输的脉冲激光能量计算方法;最后进行了试验验证;试验表明,该方法成功实现了典型故障模式的准确复现,可精确定位芯片内薄弱部位以指导装备优化设计。 | 张西山 马英起 闫鹏程 连光耀 李会杰 | 2021 | 计算机测量与控制2021，29，8： | 0 |
| 2 | 激光激活异步累加器硬件木马研究显示文摘随着集成电路设计制造的全球化,芯片存在被植入硬件木马的隐患.目前的硬件木马检测方法中,逻辑测试激活硬件木马的概率较低,侧信道检测受电路工艺偏差、硬件木马面积影响较大.本文提出基于激光注入的硬件木马检测方法,通过诱发数据翻转主动激活硬件木马触发逻辑,同时可以定位硬件木马触发逻辑的物理位置.采用1064 nm皮秒脉冲激光成功激活了基于FPGA的异步累加器型硬件木马.研究表明对于具有逻辑触发结构的硬件木马,激光注入方法与硬件木马的触发条件无关.通过设计高覆盖率的注入方式,能够高概率的激活硬件木马. | 袁润杰 朱翔 韩建伟 李悦 马英起 上官士鹏 王添 | 2022 | 密码学报2022，9，2： | 0 |
| 3 | SRAM单元的单粒子效应三维敏感区形状参数模拟仿真方法显示文摘为揭示静态随机存储器(SRAM)辐射效应以及内部电荷收集变化规律,从而为器件辐射效应及加固提供有效的仿真数据支撑,针对器件在轨单粒子翻转(SEU),提出一种SRAM单元的三维敏感区形状参数模拟仿真方法。首先通过器件级和电路级仿真相结合的手段,利用计算机辅助设计(TCAD)构建三维模型;然后通过仿真获得重离子从不同方向入射后的单粒子瞬态电流,将此电流作为故障注入到65 nm SRAM单元的电路级模型中仿真SEU;最终得到65 nm SRAM单元的单粒子效应(SEE)三维敏感区形状参数。 | 王玉才 刘艳 曹荣幸 李红霞 刘洋 郑澍 韩丹 薛玉雄 | 2023 | 航天器环境工程2023，40，6： | 0 |
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