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| 1 | 基于挤压技术的Ge-Te-Se低损耗芯-包结构光纤的制备及其性能显示文摘采用化学和物理提纯法制备出透光性较好的高纯度Ge20Te20Se60和Ge20Se80玻璃,分别作为光纤纤芯和包层玻璃基质.利用硫系玻璃的流变特性和黏度对温度的依赖性,用平直模具挤压法制备了完整芯包结构、低结构缺陷、椭圆度较好的光纤.研究表明:对玻璃进行相应提纯后,光纤损耗明显降低,平均损耗为8.5dB/m;在4.25μm处光纤损耗达到最低,为6.8dB/m.平直模具挤压法克服了Te玻璃易析晶的困难,所得到的Te基硫系玻璃光纤芯包层界面清晰、均匀度较好、损耗值较低、满足红外光在理想结构光纤中传输和传感的需求,在中远红外光学领域有一定的潜在应用价值. | 廖方兴 王训四 聂秋华 祝清德 程辞 孙礼红 刘硕 潘章豪 张培全 张培晴 刘自军 戴世勋 徐铁峰 陶光明 | 2015 | 光子学报2015，44，10： | 6 |
| 2 | ((GeSe_2)(SnSe_2)_(0.5))_(100-x)Te_x系统硫系玻璃的光学性能及结构显示文摘硫系玻璃光纤具有优良的中远红外透过特性、抗酸性及良好的流变特性,在中远红外传感、高能激光传输、光谱学领域具有广泛的应用前景。采用熔融淬冷法制备了系列((GeSe2)(SnSe2)0.5)100-xTex(x=0,20,40)硫系玻璃样品,测试了玻璃样品的X射线衍射谱、差示扫描量热曲线、可见/近红外光谱、Fourier红外光谱、显微Raman光谱,对玻璃的物化性能及结构进行表征。分析并讨论了在Ge-Se-Sn玻璃系统中随着Te的引入,玻璃样品的成玻能力及物化性能和光学特性的变化。利用经典的Tauc方程计算了样品的光学带隙的变化,解释并讨论了Raman光谱的变化与玻璃结构变化之间的关系。研究表明:Te的引入增加了玻璃结构的复杂度,使得基团及化学键之间的竞争激烈,提高了玻璃的成玻性能及稳定性;随着Te含量的增加,短波及长波截止边均发生红移,光学带隙减小,其中,玻璃组分样品((GeSe2)(SnSe2)0.5)60Te40的稳定性最好,其特征温度(ΔT)为79℃,且具有良好的红外透过性能,其红外透过范围为1~17.50μm。 | 尹冬梅 顾朝晖 陈祎 张芳芳 车丙晨 戴世勋 | 2014 | 硅酸盐学报2014，42，7： | 1 |
| 3 | In含量对Ge-In-Se薄膜光学特性的影响(英文)显示文摘采用磁控溅射法制备了Ge-In-Se硫系薄膜,利用X射线衍射、可见-近红外吸收光谱和Raman光谱分析等技术对Ge-In-Se硫系薄膜的相态、结构和光学特性进行了研究和分析。结果表明:该Ge-In-Se薄膜具有良好的非晶特性。Raman光谱分析表明:[GeSe4]四面体Ge—Se键的高频振动模式是该薄膜的主要振动模式之一,且Ge—Se键的振动强度随着In含量的增加而减小;当In的含量达到13.87%(摩尔分数)时,[GeSe4]四面体消失,而[InSe4]四面体的对称伸缩振动模式成为了主要振动模式。采用Swanepoel方法和经典Tauc方程计算发现:随着In含量增加,该薄膜的短波吸收限红移,折射率逐渐增大,光学带隙逐渐减小。 | 陈芬 王永辉 聂秋华 王国祥 陈昱 沈祥 戴世勋 | 2013 | 硅酸盐学报2013，41，3： | 0 |
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