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1Li/Zn/Sn掺杂CuInO_(2)的缺陷形成能计算显示文摘研发具有P型导电性能的透明导电氧化物(TCO)是拓展TCO应用必须面对的重要课题。采用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法,研究了Li/Zn/Sn掺杂替代In/Cu的CuInO_(2)的缺陷形成能以及缺陷电荷转变能级。结果表明:施主类缺陷中的LiCu可以实现N型导电性能,而ZnCu、SnIn、SnCu由于较高的缺陷形成能和较深的跃迁能级,都无法实现N型导电性能;在受主类缺陷中,在富氧环境下,Zn替代In将成为CuInO_(2)这种TCO材料理想的受主缺陷。谭敏 王栋 张金省 方志杰 2023当代化工2023,52,11:0
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