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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	铜负载Y分子筛中Cu物种的表征及分析显示文摘综述了铜负载Y分子筛(Cu Y)中Cu物种表征及分析的研究进展,重点阐述了近年来X射线衍射分析(XRD)、透射电子显微镜分析(TEM)、X射线光电子能谱分析(XPS)、H2程序升温还原(H2-TPR)、原位红外光谱(CO-IR和NO-IR)、电子顺磁共振(ESR)等表征方法在Cu Y中Cu物种的微观结构分析方面取得的进展。还对制备方法对Cu Y中Cu物种落位和性能的影响进行了综述,指出综合采用这些表征方法,得到Cu Y中Cu物种状态、价态、落位及含量等更加全面、准确的信息,进而选择合适的制备方法调控Cu Y中Cu物种存在状态、价态及落位,制备出性能更佳的Cu Y是今后发展的方向。	王玉春郑华艳李梦云李忠	2015	化工进展2015，34，7：	3

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