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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	单粒子效应加固及仿真验证技术研究显示文摘作为星载设备信号处理核心器件,SRAM FPGA的单粒子效应加固及加固方法验证始终备受关注。文中研究了三模冗余和动态刷新两种加固方法,并设计了故障仿真验证方法,试验应用故障注入技术,采用比对方法,成功对加固方法进行了验证。试验结果显示,文中设计的加固方法可提高抗单粒子性能。	孙野房志刚陈晖照黄维张举	2013	电子科技2013，26，11：	1

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