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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	石墨烯的SiC外延生长及应用(续)显示文摘3.3 X射线光电子能谱XPS能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。通过接收并测量这些光电子的能量,得到原子或分子内部各轨道的结合能,从而就可以了解样品中元素的组成。图8所示为样品的XPS能谱图。	陆东梅杨瑞霞孙信华吴华郝建民	2012	半导体技术2012，37，10：	1

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