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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	基于像散的并行全场三维检测新方法显示文摘基于像散原理,提出了一种全场并行三维检测新方法,该检测方法利用微透镜阵列产生的二维点光源阵列来实现并行像散光路,实现了对测量表面的全场同步检测.利用像散特性曲线中的线性关系,实现在较大采样间距下获得较高的轴向分辨率.介绍了并行全场三维检测的测量原理,对像散光学系统的性能参数和影响因素进行了分析和讨论,并进行了可行性实验.实验结果中像散特性与理论分析是基本吻合的,表明像散法在并行三维检测中可以应用.	王永红余晓芬俞建卫黄其圣徐科军	2003	上海交通大学学报2003，37，10：	2

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