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15篇 您的检索式：期刊名="IEEE Design Test on Computer"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	High -accuracy flush-and -scan software diagnostic 显示文摘	Stanley K	2001	IEEE Transactions on Design & Test of Computers2001，18，6：	1
	2	Power analysis attacks and countermeasures 显示文摘	POPP T MANGARD S OSWALD E	2007	IEEE Transaction on Design Test of Computers2007，24，6：	1
	3	Hardware Trojans in Wireless Cryptographics Ics显示文摘	Jin Y Makris Y	2010	Journal of IEEE Design & Test on Computers Spe- cial issue on Verifying Physical Trustworthiness of Integrated Circuits and Systems2010，27，1：	1
	4	HW/SW Codesign and Rapid Prototyping of Embedded Systems显示文摘	Slomka F	2000	IEEE Design & Test of Computers Special Issue on Design Tools for Embedded Systems2000，，46：	1
	5	Soft errors in advanced computer systems 显示文摘	Baumann R	2005	IEEE Transactions on Design & Test of Computers2005，22，3：	1
	6	Three generations of asynchronous microprocessors显示文摘	Martin A J Nystrom M Wong C G	2003	IEEE Design & Test of Computers special issue on Cloekless VLSI Design2003，20，6：	1
	7	Using laser defect avoidance to build large-area FPGAs显示文摘	G H Chapman B Dufort	1998	IEEE Test & Design on Computers1998，15，4：	1
	8	Test challenges for 3D integrated circuits 显示文摘	HHS Lee Chakrabarty K	2009	IEEE Transactions on Design & Test of Computers2009，26，5：	1
	9	A reconfiguration manager for dynamically reconfigurable hardware显示文摘	MOZOS D VERKEST D	2005	IEEE Trans on Design & Test of Computers2005，22，5：	1
	10	Selective hardening: toward ost-effective error tolerance 显示文摘	POLIAN I HAYES J P	2011	IEEE Transactions on Design & Test of Computers2011，28，3：	1
	11	Soft errors in advanced computer systems 显示文摘	Baumann R	2005	IEEE Trans on Design & Test of Computers2005，22，3：	1
	12	Synthesizing fast, online testable control units显示文摘	Hertwig A Wunderlich H J	1998	IEEE Trans on Design :Test of Computers1998，15，4：	1
	13	Soft errors in advanced computer systems显示文摘	Baumann R	2005	IEEE Transactions on Design & Test of Computers2005，22，3：	1
	14	A Beconfigration Man- agnr for Dynamically Reconfignrable Hardware显示文摘	Resano J Mozos D Verkest D	2005	IEEE Trans on Design & Test of Computers2005，22，5：	1
	15	Localizing multiple faults in a protocol implementation显示文摘	Kakuda Y Yukitomo H Kusumoto S Kikuno T	1995	IEEE Trans on Design & Test of Computers1995，12，3：	1

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